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    IC芯片檢測

    集成電路(integrated circuit)是一種微型電子器件或部件,采用一定的工藝,把一個電路中所需的晶體管、二極管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起,制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質(zhì)基片上,然后封裝在一個管殼內(nèi),成為具有所需電路功能的微型結(jié)構(gòu);其中所有元件在結(jié)構(gòu)上已組成一個整體,使電子元件向著微小型化、低功耗和高可靠性方面邁進了一大步。它在電路中用字母“IC”表示。



    將IC芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)"透明化",缺陷更易尋找


    通用型穿透原理將IC芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)實時以2D圖像呈現(xiàn)出來,還可以以不同的視角檢測IC芯片內(nèi)部。

    將IC芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)"透明化"放大,缺陷更易尋找!

    應用范圍:適用于對穿透能力要求不高的產(chǎn)品檢測,例如PCB電路板、IC芯片、IGBT半導體、LED燈等小型電子產(chǎn)品

    功能介紹:一鍵CNC編程自動檢測、BGA氣泡測量面積與空洞率、金線長度寬度測量、可視化導航界面(精準定位檢測位置)、X-Ray平板60°旋轉(zhuǎn)、支持幾何放大200x和系統(tǒng)放大2000x。


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